개요SEU(Single Event Upset)는 고에너지 입자(우주선, 방사선 등)가 반도체 소자에 충돌하여 비트 값이 일시적으로 반전되는 소프트 오류(Soft Error)를 의미한다. 주로 메모리, 레지스터, FPGA 등에서 발생하며, 물리적 손상 없이 데이터 오류를 유발하는 것이 특징이다. 우주, 항공, 데이터센터, 자동차 등 고신뢰 시스템에서 중요한 이슈로 다뤄진다.1. 개념 및 정의SEU는 단일 고에너지 입자가 반도체 내부를 통과하면서 전하를 생성하고, 이로 인해 저장된 데이터 비트(0→1 또는 1→0)가 변경되는 현상이다. 이는 일시적 오류로 시스템 재부팅 또는 재계산을 통해 복구 가능하다.2. 특징항목설명영향비파괴적 오류물리적 손상 없음일시적 문제단일 이벤트 발생한 번의 입자 충돌예측 어려움데..
